Borderless产品观查导电粒子

边Borderless产品观查导电粒子

产品说明：使用光源,偏光片<0.09mm(条件待确认),镜头前偏光片消除偏光效应后,再调整光路上之干涉相位差

测量显微镜工作原理如图所示，被测工件置于工作台上，在底光或表面光照明下，它由物镜成放大像，经过分光与反射系统后，一路成像于目镜分划板上，人眼通过目镜可观察到一个放大的正像；另一路成像于彩色CCD上，摄像机摄取工件像后通过网口传送至计算机及彩色液晶显示器上，显示出一个与工件*同向的放大清晰影像。

我们可以通过目镜或液晶显示器对工件像进行瞄准定位，通过数字测量系统：光栅尺与专业测量软件对测量数据进行数据处理，即光栅尺的信号与计算机主机通讯，供专业软件进行测量和数据处理。

目视测量系统还可以利用目镜分划板上预先刻制好的标准图形对工件进行比较测量。

底光照明光源与显微镜自带表面光源，视工件的性质两种照明可分别使用，也可同时使用。