导电粒子显微镜

导电粒子显微镜产品介绍
应用领域：LCD液晶、导电粒子、彩色滤光片、手机屏幕、FPD模组、半导体晶圆片、FPC、PCB IC封装、光盘CD、 图像传感器CCD、 CMOS、PDA等。
光源：采用3W 高亮度LED落射和透射照明装置。
物镜：高清晰平场荧光物镜。
偏光：主机内含有可调节偏光装置。
微分干涉DIC：主机内含有可调节微分干涉DIC装置，使观察更清晰，具有更强的立体感和调焦功能。
工作原理
导电粒子显微镜是利用电子束在样品表面扫描激发出来代表样品表面特征的信号成像的。主要用来作微形貌观察、显微成分分析。分辨率可达到1nm，放大倍数可达5×105倍。
导电粒子显微镜特点
(1)扫描电镜所用样品的制备方法简便(固定、干燥和喷金)，不需经过超薄切片；
(2)能够直接观察样品表面的结构，样品的尺寸可大至120mm×80mm×50mm。
(3)扫描电镜所观察到图像景深长，图像富有立体感；扫描电镜的景深较光学显微镜大几百倍，比透射电镜大几十倍。
(4)图象的放大范围广，分辨率也比较高。图像的放大倍率在很大范围内连续可变(101-105×)，分辨率介于光学显微镜与透射电镜之间，可达3nm。
(5)样品的辐射损伤及污染程度小等。
导电粒子显微镜局限性
(1)分辨率还不够高(1-10nm)；
(2)只能显示样品的表面形貌，无法显示内部详细结构。

产品名称：导电粒子金相显微镜
产品型号：PZ- M-100DIC
产品简介：M-100DIC型微分干涉数码显微镜是一款性价比非常高的检测用光学仪器。导电粒子金相显微镜采用优良的无限远光学成像系统，内置LED高亮度照明器,引入了微分干涉显微观察功能。双目摄影观察头，体现了目视观察的真实还原，以及数码摄影与显微成像的技术融合，观察到的干涉图像具有更强的立体感，适合于非透明材质的表面形态观察，如液晶屏导电粒子的显微形态。是精密制造领域内品质检测、结构研究的理想仪器。 
性能特点 
★ 产品采用无限远光学成像系统，可选择5X、10X、20X等长工作距离平场消色差无应力物镜，匹配相应的微分 干涉（DIC插板）进行不同倍率的显微观察；
★ 照明系统采用高亮度、长工作时间的LED器件，具有结构紧凑、使用安全等特点，特别适合在线检测的环境要求；
★采用立柱式高度调整方式，观察样品的厚度范围更大.