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ACF导电粒测量显微镜系列是一种集软件、光、机、电一体的高精度、高效率的显微测量仪器;系列是观察、测量和处理系统化的显微镜阵容;DTN-2010S测量显微镜可以作为观察显微镜,用相对量测法检查工件表面粗糙度等非接触测量 为目的 的各种精密加工业,是计量室、实验室以及生产车间*的计量检测设备之一。
测量金相显微镜主要用于LCB、PDP、PCB等相关的光电产业,为其研发、制造提供所需的检测设备。具有观察OLB压接粒子分布、液晶板表面贴附的异物、液晶板划伤情况、面板上的Bonding 效果测量导电粒子大小、数量等功能。